Viendo del 1 al 24 (de 23)
fusión lenta corriente: 50mA embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In:...
fusión lenta corriente: 5A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In: 8...
fusión lenta corriente: 1A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In: 8...
fusión lenta corriente: 800mA embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In...
"time lag" bajo capacidad de ruptura corriente: 80 mA embalaje: 10 uds./caja de prueba: tiempo de apertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: máx. 2 min. 2.75 ...
fusión lenta corriente: 100mA embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In...
fusión lenta corriente: 6.3A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In:...
fusión lenta corriente: 2.5A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In:...
fusión lenta corriente: 1.6A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In:...
fusión lenta corriente: 250mA embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In...
fusión lenta corriente: 8A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In: 8...
fusión lenta corriente: 2A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In: 8...
fusión lenta corriente: 10A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In: ...
fusión lenta corriente: 315A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In:...
fusión rápida 100 uds.: 10 uds. de: 0.1 A, 0.2 A, 0.5 A, 1 A, 1.6 A, 2 A, 2.5 A, 3 A, 4 A, 5 A bajo capacidad de ruptura de prueba: tiempo de apertura: ...
fusión lenta corriente: 3.15A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In...
fusión lenta corriente: 12A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In: ...
fusión lenta corriente: 500mA embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In...
slow-acting 100 uds.: 10 uds. de: 0.1 A, 0.2 A, 0.5 A, 1 A, 1.6 A, 2 A, 2.5 A, 3 A, 4 A, 5 A bajo capacidad de ruptura de prueba: tiempo de apertura: 1.5 In: t>1H ...
fusión lenta corriente: 4A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In: 8...
fusión lenta corriente: 15A embalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In: ...
fusión lenta corriente: 630mA emalaje: 10 uds./caja del test: tiempo de abertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: 800mS< t <30S 2.75 In: 200mS< t <6S 4 In:...
"time lag" bajo capacidad de ruptura corriente: 1.5 A embalaje: 10 uds./caja de prueba: tiempo de apertura: 1.5 In: t>1H 2.1 In: máx. 2 min. 2.75 ...
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